紅外熱成像儀，可以以“面”的形式對目標整體實時成像，使操作者通過屏幕顯示的圖像色彩和熱點追蹤顯示功能就能初步判斷發(fā)熱情況和故障部位，然后加以后續(xù)分析，從而高效率、高準確率地確認問題所在。

幾乎所有利用或者發(fā)射能量的物體在發(fā)生故障前都會產(chǎn)生發(fā)熱現(xiàn)象。保證電氣和機械系統(tǒng)運行可靠性的關(guān)鍵便是對能源的有效管理。現(xiàn)在，紅外成像技術(shù)已毋庸質(zhì)疑地成為預防性維護領(lǐng)域最有效的檢測工具，它能夠在設備發(fā)生故障之前，快速、準確、安全的發(fā)現(xiàn)故障。在一個電氣接點發(fā)生故障之前及時發(fā)現(xiàn)并進行維修，可以節(jié)省或避免因此造成的生產(chǎn)停工、產(chǎn)量下降、能源損耗、火災甚至災難性故障所帶來的高昂代價。

但是僅僅通過紅外圖像來發(fā)現(xiàn)問題是遠遠不夠的。事實上，一臺只能生成紅外圖像而無法測量溫度的紅外熱成像儀并不能反映電氣或者機械故障的所有情況。如果一份缺乏簡單快速的檢測數(shù)據(jù)的分析報告是無法準確將可能引發(fā)故障的熱點和設備正常運轉(zhuǎn)的熱點進行有效區(qū)分，因此無法做出及時的維修方案

紅外熱像儀是通過非接觸探測紅外熱量，并將其轉(zhuǎn)換生成熱圖像和溫度值，進而顯示在顯示器上，并可以對溫度值進行計算的一種檢測設備。紅外熱像儀能夠?qū)⑻綔y到的熱量精確量化，能夠?qū)Πl(fā)熱的故障區(qū)域進行準確識別和嚴格分析。紅外成像儀廣泛使用在軍事上，直升機和坦克裝甲車應用最多，利用紅外成像攝像頭可以在夜間執(zhí)行復雜任務，能夠精確打擊目標。世界上生產(chǎn)紅外成像儀比較好的品牌有美國的ＦＬＩＲ（其前身是瑞典公司ＦＬＩＲ）和ＧＯＥＺ　高斯公司，ＧＯＥＺ　其產(chǎn)品可靠性能比較高。

紅外熱像儀非常易于使用，熱成像垂手可得，操作和直觀的屏顯指南，不需專業(yè)培訓便可進行準確的測量，只需指向目標，對準焦儀器，它就會自動調(diào)整溫度范圍來顯示清晰鮮明的圖像，一旦用戶扣動儲存按鈕，便會存儲圖像及相關(guān)的測量數(shù)據(jù)?！⊥ㄟ^隨附的軟件，用戶可以隨心更改主要圖像參數(shù)，從而優(yōu)化圖像和抽取最多的細節(jié)，檢測報告根據(jù)軟件程序操作既可。

電力、電訊設備過熱故障預知檢測，在電力系統(tǒng)和設備維修檢查中，紅外線熱像儀證明是節(jié)約資金的診斷和預防工具。測量電器設備，非接觸紅外線熱像儀可以從安全的距離測量一個物體的表面溫度，使其成為電器設備維修操作中不可缺少的工具。

紅外熱像儀可以有效防止設備故障和計劃外的斷電事故的發(fā)生，下面是需要采用紅外熱像儀進行檢查的部分設施：

ａ：電氣裝置：可發(fā)現(xiàn)接頭松動或接觸不良，不平衡負荷，過載，過熱等隱患。這些隱患可能造成的潛在影響是產(chǎn)生電弧、短路、燒毀、起火。

ｂ：變壓器：可以發(fā)現(xiàn)的隱患有接頭松動，套管過熱，接觸不良（抽頭變換器），過載，三相負載不平衡，冷卻管堵塞不暢。空冷器件的繞組可直接用紅外熱像儀測量以查驗過高的溫度，任何熱點都表明變壓器繞組的損壞。其影響為產(chǎn)生電弧、短路、燒毀、起火。

ｃ：電動機、發(fā)電機：可以發(fā)現(xiàn)的隱患是軸承溫度過高，不平衡負載，繞組短路或開路，碳刷、滑環(huán)和集流環(huán)發(fā)熱，過載過熱，冷卻管路堵塞。其影響為有問題的軸承可以引起鐵芯或繞組線圈的損壞；有毛病的碳刷可以損壞滑環(huán)和集流環(huán)，進而損壞繞組線圈。檢查發(fā)熱點，在出現(xiàn)的問題導致設備故障之前定期維修或者更換。

電動機線圈絕緣層——通過測量電動機線圈絕緣層的溫度，延長它的壽命。還可能引起驅(qū)動目標的損壞。為了保持電動機的壽命期，檢查供電連接線和電路斷路器（或者保險絲）溫度是否一致。

ｄ：連接器：電連接部位會逐漸放松連接器，由于反復的加熱（膨脹）和冷卻（收縮）產(chǎn)生熱量、或者表面臟物、炭沉積和腐蝕。非接觸紅外熱像儀可以迅速確定表明有嚴重問題的溫升。

電動機軸承：

ｅ：各相之間的測量：檢查感應電動機、大型計算機和其它設備的電線和連接器各相之間的溫度是否相同

ｆ：不間斷電源：確定ＵＰＳ輸出濾波器上連接線的發(fā)熱點。一個溫度低的點表明可能直流濾波線路是開路。

備用電池：檢查低壓電池以確保連接正確。與電池接頭接觸不良可能會加熱到足以燒毀電池芯棒。

ｇ：鎮(zhèn)流器：在鎮(zhèn)流器開始冒煙之前檢查出它的過熱。

ｈ：公用設施：確定出連接器、電線接頭、變壓器和其他設備的熱點，一些型號的光學儀器范圍在６０：１甚至更大，使幾乎所有的測量目標都在測量范圍內(nèi)。