產(chǎn)品描述
注冊信息
IE-200M倒置金相顯微鏡使用專業(yè)的金相物鏡及平場目鏡,成像質(zhì)量好,分辨率高,觀察舒適
IE-200M倒置金相顯微鏡提供優(yōu)越的圖像質(zhì)量和穩(wěn)固可靠的機(jī)械結(jié)構(gòu).
IE-200M倒置金相顯微鏡選配相應(yīng)的攝影攝像附件,可對觀察圖像進(jìn)行采集和保存,配電腦和專業(yè)金相分析軟件圖像進(jìn)行金相圖像分析
IE-200M倒置金相顯微鏡操作簡便,附件齊全,廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測、地 址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域。
歐米特IE-200M倒置金相顯微鏡技術(shù)規(guī)格:
光學(xué)系統(tǒng) | 有限遠(yuǎn)色差校正系統(tǒng) |
觀察筒 | 鉸鏈?zhǔn)饺浚?5°傾斜,雙邊±5屈光度可調(diào),瞳距調(diào)節(jié)范圍:54-75mm,固定式分光比,雙目:三目=80%:20% |
目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm |
高眼點大視野目鏡WF15X/13 | |
高眼點大視野目鏡WF20X/10mm | |
金相物鏡 | 長工作距平場消色差專業(yè)金相物鏡5X,10X,20X,50X、100X |
轉(zhuǎn)換器 | 內(nèi)定位四孔轉(zhuǎn)換器 |
內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器 | |
調(diào)焦機(jī)構(gòu) | 低手位粗微調(diào)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),粗動每轉(zhuǎn)行程38 mm;微調(diào)精度2um,帶松緊調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu) |
載物臺 | 三層機(jī)械移動平臺,面積180mmX155mm,右手低手位控制,行程:75mm×40mm;金屬載物臺板,中心孔直徑φ12mm |
照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明,帶可變孔徑光闌和中心可調(diào)視場光闌,自適應(yīng)90V-240V寬電壓 6V30W鹵素?zé)簦蛇x配單顆3W LED燈),光強(qiáng)連續(xù)可調(diào) |
偏光裝置 | 起偏鏡和檢偏鏡均可移出光路,檢偏鏡插板可360°旋轉(zhuǎn) |
攝影裝置 | 攝影接筒(帶PK卡口),3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 | 0.5X/1.0X C型攝像接筒 |
軟件 | 專業(yè)金相分析軟件 |
IE-200M倒置金相顯微鏡使用專業(yè)的金相物鏡及平場目鏡,成像質(zhì)量好,分辨率高,觀察舒適 IE-200M倒置金相顯微鏡提供優(yōu)越的圖像質(zhì)量和穩(wěn)固可靠的機(jī)械結(jié)構(gòu). IE-200M倒置金相顯微鏡選配相應(yīng)的攝影攝像附件,可對觀察圖像進(jìn)行采集和保存IE-200M倒置金相顯微鏡操作簡便,附件齊全,廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測、地 址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域。
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